INSPECTION PAR RAYONS X
La carte à inspecter est positionnée entre le générateur et un capteur sensible aux rayons x. Les matériaux de masses atomiques élevées ou de fortes épaisseurs bloquent le rayonnement et l’empêchent d’atteindre le capteur.
Une image en niveau de gris va être générée à partir de la quantité de rayonnement reçue par le capteur. Le noir correspond à une absence de rayonnement et inversement pour le blanc.
Les pièces épaisses ou de forte masse atomique apparaîtront donc en sombre sur l’image. A l’opposé les parties claires représentent les endroits où il y a très peu ou pas de matière.
APTEM travaille main dans la main depuis des années avec Gemaddis pour assurer les contrôles de composants électroniques. Ce partenariat nous apporte un accompagnement de haut niveau dans le process et le contrôle de nos cartes électroniques.
APTEM procède à une inspection visuelle de chaque carte électronique selon la norme IPC-A-610 Classe 3. Pour se faire notre service de contrôle est équipé de microscope zoom stéréo 6.7X -50X
Nous disposons en outre d’une machine d’inspection optique AOI EXTRA EYES. Ce test permet d’assurer la présence de chaque composant sur la carte, sa polarité et également sa soudabilité.
L’analyse est très rapide puisqu’elle est réalisée par comparaison d’images basée sur une bibliothèque composants.